2021年11月9日，星期二
TWI推出了一款新的联合工业项目研究传感器和涂层解决方案，以管理绝缘下的腐蚀(CUI)。
CUI提出了独特的挑战，包括预测故障发生的时间和地点。严重CUI通常会在更容易发生的地区影响系统的一小部分，但在高度关键地区，即使是一次故障都可能造成严重的安全性和相关的财务后果。
为了自信地防止故障，采用了以保守间隔进行的高覆盖和高可靠性检测。然而，由于有效的检查选择有限，这是高度资源密集型的。这意味着工厂被迫进行昂贵的检查活动，这些活动要么是计划好的，要么是由意外发现或故障引发的。
CUI传感器已经作为一种检测和监测CUI的解决方案，减少或消除了对密集检测程序的需要。然而，由于这些传感器解决方案相对较新，缺乏数据来比较性能和使用限制。除了传感器外，关于使用成熟技术(如保护CUI的涂层)的信息和数据通常属于制造商，因此终端用户在根据工厂条件选择最佳解决方案时被迫依赖制造商指导。对于新型涂层系统来说尤其如此，因为制造商以外的数据很少或没有。
一项独立的研究将通过为行业生成性能数据来缓解这个问题。这一新的联合工业项目将解决这一知识差距，以减少选择最适当技术以协助管理CUI的风险。
TWI提出了一项针对CUI管理的传感器和涂层解决方案的研究，基于:
- 使用CUI模拟测试设备对一系列CUI传感器的性能进行了研究和比较
- 集中实验室测试，以提高对涂层性能限制的理解
- 从性能测试传感器和涂层获得的信息中开发一个数据库，然后用于预测建模
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CUI项目大纲15.11 - pdf - 246kb